特許

J-GLOBAL ID：200903074592417293

X線ビーム位置検出システム

発明者： マイケル・フロイド・ガード
出願人/特許権者： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
代理人 (1件)： 生沼 徳二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-340296
公開番号（公開出願番号）：特開平9-276260
出願日： 1996年12月20日
公開日（公表日）： 1997年10月28日
要約：

【要約】【課題】 ピン・スキャンを一切実行せずに焦点位置を決定し、維持すると共に、焦点位置の整列を容易にすることのできるX線ビーム位置検出システムを提供する。【解決手段】 本発明は、一形態では、計算機式断層写真法システムにおいて従来のスキャン・データを用いて焦点位置を決定するシステムであり、計算機式断層写真法システムは、一実施例では、対称に配置された2つの放射線経路(60、62)に沿ってX線(16)を減衰させるボウタイ・フィルタ(54)を含んでいる。これらの対称な光線経路(60、62)は、同定可能な経路の長さでそれぞれの検出器チャンネル(18)に入射している。これらの光線経路(60、62)の長さを比較して、焦点(50)がシフトしたか否かを決定する。

請求項（抜粋）：

物体を走査する計算機式断層写真法システム(10)においてX線ビームの位置を決定するX線ビーム位置検出システムであって、前記計算機式断層写真法システム(10)は、焦点(50)を有しているX線源(14)と、前記焦点(50)がx軸内で移動するにつれて単調に変化する経路の長さの差を発生するフィルタ(54)と、少なくとも2つの検出器チャンネル(18)とを含んでおり、前記X線源(14)は、X線ビーム(16)を発生しており、前記フィルタ(54)は、少なくとも2つの対称に設けられた放射線経路(60、62)に沿って前記ビーム(16)を減衰させており、前記X線(16)は、前記検出器チャンネル(18)に入射しており、前記X線ビーム位置検出システムは、前記検出器チャンネル(18)での信号強度を同定し、スキャン全体にわたって各々の検出器チャンネル(18)についての同定された前記信号強度を加算し、該加算結果を用いてX線ビーム位置の変化を決定するように構成されているX線ビーム位置検出システム。

IPC (2件)：

A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 350

FI (2件)：

A61B 6/03 320 M ,  A61B 6/03 350 G