特許

J-GLOBAL ID：200903074631449343

残留応力測定方法およびそれに用いるレンズ

発明者： 田中 俊一郎
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 須山 佐一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-228091
公開番号（公開出願番号）：特開平5-018833
出願日： 1991年09月09日
公開日（公表日）： 1993年01月26日
要約：

【要約】【目的】 材料表面における残留応力の分布を定量的に評価することのできる残留応力測定方法を提供する。【構成】 被測定物の平滑表面に、この表面と音響レンズとの距離を変化させて、照射域に異方性を有する超音波を照射する。この超音波の深さ方向の照射距離に対する、その照射域における前記超音波の鏡面反射波と励起される表面弾性波と内部の励起波との干渉波の強さの関係を表すV(Z)曲線を求める。このV(Z)曲線の曲線周期から、応力状態にある被測定物表面の照射励起域における表面弾性波速度を求める。この応力存在下での表面弾性波速度と、被測定物表面の無応力状態における表面弾性波速度(基準速度)との変化量を求め、この変化量の分布を較正曲線を用いて超音波照射域の長辺方向における残留応力値に変換し、特定方向の残留応力分布を求める。

請求項（抜粋）：

被測定物の平滑表面に、この表面と該表面における照射域に異方性のある超音波を発する音響レンズとの距離を変化させて超音波を照射し、この超音波の深さ方向の照射距離に対する、その照射域における前記超音波の鏡面反射波と励起される表面弾性波と内部の励起波との干渉波の強さの関係を表すV(Z)曲線を求め、このV(Z)曲線における曲線周期から応力状態にある被測定物表面の照射励起域における表面弾性波速度を求め、前記被測定物表面の無応力状態における表面弾性波速度を基準速度とし、応力存在下での表面弾性波速度と前記基準速度との変化量を求め、この変化量の分布をもとに、前記超音波照射域の長辺方向における残留応力値に変換して特定方向の分布を求めることを特徴とする残留応力測定方法。

IPC (3件)：

G01L 1/00 ,  G01N 29/20 501 ,  G01N 29/24 501