特許
J-GLOBAL ID:200903074643650320
画像検査方法および装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小西 淳美
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-171628
公開番号(公開出願番号):特開平9-330411
出願日: 1996年06月12日
公開日(公表日): 1997年12月22日
要約:
【要約】【課題】幅広い検査条件と検査対象に対して、処理時間が短く信頼度の高い位置ずれ補正を行って画像の検査を行うことのできる画像検査方法及びその方法を適用した装置を提供する。【解決手段】基準画像上の所定位置にある線分m本に対応する基準画像データ列に対して、検査対象画像上のそれと同じ位置の線分を含めた隣接するn本の線分に対応する検査対象画像データ列を抽出する。それらについて一致度の評価数値を演算し、一致度が最大の評価数値を与える検査対象画像データ列の位置データと基準画像データ列の位置データとに基づいて位置ずれを補正して基準画像と検査対象画像とを比較する。
請求項(抜粋):
基準画像と比較して検査対象画像を検査する画像検査方法において、位置ずれを補正すべき方向と平行方向の線分に対応する画素列の位置である線分位置を、mを正の整数として、m個選択する線分位置選択過程と、その線分位置選択過程で選択されたm個の線分位置の基準画像上の基準画素データ列をm個抽出する第1データ抽出過程と、そのm個の線分位置を含みその線分位置から隣接する方向に画素単位で位置変化させた位置から検査対象画像上の検査対象画素データ列を、nを正の整数として、n個抽出する第2データ抽出過程と、その第1データ抽出過程で抽出されたm個の基準画素データ列と、その第2データ抽出過程で抽出されたn個の検査対象画素データ列の各々について画素単位で線分方向に位置変化させた複数の検査対象画素データ列とから一致度の評価数値を得る評価数値演算過程と、その評価数値演算過程で得られた評価数値の中で一致度が最大の評価数値を与える検査対象画素データ列の位置のデータと前記線分位置のデータから位置ずれ値を得る位置ずれ値演算過程と、その位置ずれ値演算過程で得た位置ずれ値に基づいて位置ずれを補正して基準画像と比較して検査対象画像を検査する位置ずれ補正比較過程と、を含むことを特徴とする画像検査方法。
IPC (4件):
G06T 7/00
, B41F 33/14
, G01N 21/89
, G06K 9/00
FI (5件):
G06F 15/70 460 E
, G01N 21/89 A
, G06K 9/00
, B41F 33/14 G
, G06F 15/62 410 A
引用特許:
審査官引用 (1件)
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画像検査方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-062135
出願人:大日本印刷株式会社
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