特許

J-GLOBAL ID：200903074669625374

画像処理方法及び装置

発明者： 漆家 裕之
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 藤元 亮輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-405619
公開番号（公開出願番号）：特開2005-167773
出願日： 2003年12月04日
公開日（公表日）： 2005年06月23日
要約：

【課題】 ライン欠陥がある場合であっても欠陥画素を精度良く抽出可能な画像処理装置及び方法を提供する。【解決手段】 欠陥抽出用画像より前記ライン欠陥を抽出するステップと、抽出された前記ライン欠陥情報を用いて欠陥抽出用画像のライン欠陥の補正するステップと、補正した欠陥抽出用画像を用いて欠陥画素を抽出するステップとを有するか、抽出された前記ライン欠陥にあたる画素値を用いずに画素欠陥を抽出するステップとを有することを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

欠陥抽出用画像より前記ライン欠陥を抽出するステップと、 抽出された前記ライン欠陥情報を用いて欠陥抽出用画像のライン欠陥の補正するステップと、 補正した欠陥抽出用画像を用いて欠陥画素を抽出するステップとを有することを特徴とする画像処理方法。

IPC (2件)：

H04N5/335 ,  H04N5/32

FI (2件)：

H04N5/335 P ,  H04N5/32

Fターム (7件)：

5C024AX12 ,  5C024CX22 ,  5C024CX23 ,  5C024CX26 ,  5C024HX14 ,  5C024HX27 ,  5C024HX58

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及び記憶媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-173163   出願人：キヤノン株式会社
• 特許第2850508号明細書
  
• 特開平4-90277号公報