特許

J-GLOBAL ID：200903074671065343

粒子計数装置

発明者： 山本 純三 ,  福田 正和 ,  田中 庸介
出願人/特許権者： 東亞医用電子株式会社
代理人 (1件)： 野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-137137
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332568
出願日： 1997年05月27日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】 フィルター部の濾過効果の低下を遅らせる、つまりフィルター部の寿命を延ばすことができる粒子計数装置の提供にある。【解決手段】 半透過膜で仕切られた試薬流入側の試薬流出口付近に放出口を備えたフィルター部を、試薬容器と計測部との間に備えた粒子計数装置において、試薬流出口より試薬を加圧し、加圧された試薬を放出口より放出することによって、半透過膜に付着した細菌等の粒子および気泡を除くよう構成されたことを特徴とする粒子計数装置。

請求項（抜粋）：

半透過膜で仕切られた試薬流入側の試薬流出口付近に放出口を備えたフィルター部を、試薬容器と計測部との間に備えた粒子計数装置において、試薬流出口より試薬を加圧し、加圧された試薬を放出口より放出することによって、半透過膜に付着した細菌等の粒子および気泡を除くよう構成されたことを特徴とする粒子計数装置。

IPC (3件)：

G01N 15/14 ,  G01N 1/02 ,  G01N 1/10

FI (3件)：

G01N 15/14 A ,  G01N 1/02 D ,  G01N 1/10 B