特許

J-GLOBAL ID：200903074683312974

腐食環境監視装置

発明者： 藤井 和美 ,  大橋 健也 ,  比良 康夫 ,  渡辺 弘 ,  北澤 慶司 ,  青野 輝行 ,  斎藤 裕 ,  田切 克典 ,  丹治 雅行
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-229055
公開番号（公開出願番号）：特開2001-099777
出願日： 2000年07月25日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】大気中における腐食性物質の種類とその濃度、および、金属の腐食量を連続的に監視できる大気腐食環境監視装置の提供。【解決手段】複数個の圧電素子表面に、該圧電素子毎に異なる種類の金属薄膜が形成され、測定環境中に配置し、前記金属薄膜を形成した各圧電素子を発振回路によりそれぞれ発振させて、前記各圧電素子から出力される周波数の時間的な変化を測定し、該時間的な変化を予め求められた前記金属薄膜に対する周波数の時間的な変化との関係に基づいて、前記環境中の腐食性物質または腐食性ガス種類と濃度および/または前記金属薄膜の腐食量を検出するできるよう構成したことを特徴とする腐食環境監視装置。

請求項（抜粋）：

複数個の圧電素子表面に、該圧電素子毎に異なる種類の金属薄膜が形成され、測定環境中に配置し、前記金属薄膜を形成した各圧電素子を発振回路によりそれぞれ発振させて、前記各圧電素子から出力される周波数の時間的な変化を測定し、該時間的な変化を予め求められた前記金属薄膜に対する周波数の時間的な変化との関係に基づいて、前記環境中の腐食性物質または腐食性ガス種類と濃度および/または前記金属薄膜の腐食量を検出するできるよう構成したことを特徴とする腐食環境監視装置。

IPC (2件)：

G01N 17/02 ,  G01N 5/02

FI (2件)：

G01N 17/02 ,  G01N 5/02 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 電子機器および腐食モニタ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-004706   出願人：株式会社日立製作所
• 匂い測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-034705   出願人：横河電機株式会社
• 特開平4-158271
  
• 腐食モニタカードおよびその腐食モニタ方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-259608   出願人：株式会社日立製作所