特許

J-GLOBAL ID：200903074688054388

半導体集積回路の品名コード自動読み取り装置

発明者： 横溝 恵子
出願人/特許権者： 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-020821
公開番号（公開出願番号）：特開平5-215811
出願日： 1992年02月06日
公開日（公表日）： 1993年08月27日
要約：

【要約】【目的】半導体集積回路のサンプルの評価において、品名の確認を目視によって行なっている為に発生するトラブルを防止すること。【構成】半導体集積回路1の品名をROMコード読み取り装置3で自動的に読み取り、読み取った品名による検索でデータベース5よりテストプログラム・テストパターンを自動的に転送する。

請求項（抜粋）：

品名を格納するROMを内蔵した半導体集積回路の前記ROMの内容を読み出す読み取り装置と前記装置において読み取った品名コードを記憶して作動する測定装置とを有するICテスタと、テストプログラム,テストパターンのデータベースとを備えたことを特徴とする半導体集積回路の品名コード自動読み取り装置。