特許

J-GLOBAL ID：200903074720636750

アナログ回路の耐圧特性検査装置

発明者： 村岡 康成
出願人/特許権者： ソニー株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-114862
公開番号（公開出願番号）：特開2000-304828
出願日： 1999年04月22日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
要約：

【要約】【課題】 検査対象回路の多数の検査素子の耐圧特性の検査を、高精度で短時間に検査漏れなく行うことが可能なアナログ回路の耐圧特性検査装置を提供する。【解決手段】 検索トランジスタ25nの電極間に単位リレー素子1a〜1fが挿入され、端子電源5C、5B、5Eの少なくとも一つの許容範囲外の変動で、各耐圧電源2a〜2fに応じて短絡する単位リレー素子で電極の電流値が変化することを解析し、動作状態データが耐圧基準データとが比較され、耐圧低下条件を満たす単位リレーの検出でトランジスタ25nを点滅表示し、端子電源5C、5B、5Eで電圧値が変動した端子が赤色表示され、トランジスタ25n間の接続ラインが、電流のトランジスタ25nへの流入と流出を黄色と紫色で識別表示し、多数のトランジスタの耐圧検査を、自動的に高精度で短時間に行い、表示器17で耐圧特性の低下したトランジスタを識別表示し、耐圧特性の低下状態を表示色で明確に判別することが可能になる。

請求項（抜粋）：

複数の検査素子を含む検査対象回路の回路データが格納される回路データ格納手段と、耐圧検査の実行に使用する耐圧モデル回路のデータが格納される耐圧モデルデータ格納手段と、前記回路データ格納手段から読み出された前記検査素子の回路データと、前記耐圧モデルデータ格納手段から読み出されたデータとに基づいて、前記検査素子の検査モードでの動作を解析し、前記検査素子の動作データを演算する解析演算手段と、該解析演算手段で演算された動作データと、予め前記複数の検査素子に対応してそれぞれ設定された耐圧基準データとを比較し、耐圧特性が低下している検査素子及び耐圧特性の低下状態を検出する耐圧特性検出手段と、該耐圧特性検出手段によって耐圧特性の低下が検出された検査素子の識別表示、及び耐圧特性の低下状態の色表示を行う検査状態表示手段とを有することを特徴とするアナログ回路の耐圧特性検査装置。

IPC (3件)：

G01R 31/316 ,  G01R 31/26 ,  G01R 31/30

FI (3件)：

G01R 31/28 C ,  G01R 31/26 A ,  G01R 31/30

Fターム (22件)：

2G003AA01 ,  2G003AC08 ,  2G003AF02 ,  2G003AF09 ,  2G003AH01 ,  2G003AH02 ,  2G032AA10 ,  2G032AB11 ,  2G032AC08 ,  2G032AE08 ,  2G032AE09 ,  9A001BB01 ,  9A001BB02 ,  9A001BB03 ,  9A001BB04 ,  9A001BB05 ,  9A001DD13 ,  9A001FF03 ,  9A001HH31 ,  9A001HH32 ,  9A001KK31 ,  9A001LL05