特許
J-GLOBAL ID：200903074756653511
イオン化検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-032949
公開番号（公開出願番号）：特開平10-213571
出願日： 1997年01月30日
公開日（公表日）： 1998年08月11日
要約：
【要約】【課題】 イオン化効率を高める。【解決手段】 側面全周を電離用金属とした円筒形状のエミッタ14を、イオン化室11及び酸化室12にその側面の一部を露出させるように設ける。エミッタ14が連続的に回転されると、酸化室12にて酸化された直後の金属酸化物の表面がイオン化室11内に露出し、これに向けてノズル18から噴射された分子は表面分離によりイオン化される。これにより、常に仕事関数の高い金属酸化物の表面が電離作用に用いられるため、効率的にイオン化が行なわれる。また、イオン化室11には酸素ガスが導入されないので、酸素ガスによりコレクタ19等に損傷を与える恐れもない。
請求項（抜粋）：
固体表面にノズルから噴射した試料成分の分子を接触させ、表面電離によって該分子をイオン化するイオン化検出装置において、a)表面電離を行なうためのイオン化室と、b)該イオン化室に隣接又は近接して設けられ酸素雰囲気を有する酸化室と、c)固体表面を成し、該固体表面の一部がそれぞれ前記イオン化室内及び酸化室内に露出し、且つ該イオン化室内及び酸化室内に露出する固体表面が循環的に移動するエミッタと、を備えることを特徴とするイオン化検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/62 S
, G01N 30/64 F
