特許

J-GLOBAL ID：200903074767019270

3次元認識装置

発明者： 中嶋 耕二 ,  有永 雄司 ,  野村 章博 ,  長谷川 秀法
出願人/特許権者： 株式会社安川電機
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-021946
公開番号（公開出願番号）：特開平7-208946
出願日： 1994年01月21日
公開日（公表日）： 1995年08月11日
要約：

【要約】【構成】 半導体レーザ2を用いた3次元認識装置において、前記半導体レーザ2から射出されるレーザ光の波長を一定の割合で増減をくり返すように連続的に周波数変調する周波数変調回路1と、前記レーザ光を平行にするコリメータレンズ3を通した後、前記レーザ光を2方向に分岐するビームスプリッタ4と、一方のレーザ光を反射するように基準光路端に設けたミラー5と、他方のレーザ光を測定視野内で被測定物に照射しながら走査するスキャナ8と、前記ミラー5から反射される基準レーザ光と前記被測定物からの反射レーザ光とを前記ビームスプリッタ4でミキシングして生成されるビート信号を検出する光検出器6と、前記ビート信号の周波数又は周期から前記被測定物の距離を演算する距離演算回路12と、前記距離演算回路12の後段に、前記スキャナ8のスキャンステップごとに角度検出器10からの信号を読み込む形状演算回路13からなる。【効果】 小形、安価でしかも高速の応答性を持ち、高精度の被測定物の形状認識が出来るという効果がある。

請求項（抜粋）：

半導体レーザを用いた3次元認識装置において、前記半導体レーザから射出されるレーザ光の波長を一定の割合で増減をくり返すように連続的に周波数変調する周波数変調回路と、前記レーザ光を平行にするコリメータレンズを通した後、前記レーザ光を2方向に分岐するビームスプリッタと、一方のレーザ光を反射するように基準光路端に設けたミラーと、他方のレーザ光を測定視野内で被測定物に照射しながら走査するスキャナと、前記ミラーから反射される基準レーザ光と前記被測定物からの反射レーザ光とを前記ビームスプリッタでミキシングして生成されるビート信号を検出する光検出器と、前記ビート信号の周波数又は周期から前記被測定物の距離を演算する距離演算回路と、前記距離演算回路の後段に、前記スキャナのスキャンステップごとに角度検出器からの信号を読み込む形状演算回路からなることを特徴とする3次元認識装置。