特許
J-GLOBAL ID：200903074783677465
機能テスト手順自動生成方法およびその自動生成システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-309128
公開番号（公開出願番号）：特開2004-145594
出願日： 2002年10月24日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：
【課題】システム装置における高品質の機能テスト手順を得ることができるようにした機能テスト手順自動生成方法およびその自動生成システムを提供する。【解決手段】入力した機能仕様を解析し機能を抽出する機能仕様解析処理部20と、機能毎に機能テスト項目を生成し、対応する機能テスト項目内容を知識データベース36から抽出する知識データベース制御処理部30と、機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力する機能テスト自動生成処理部40とを有して構成し、従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
入力した機能仕様を解析し機能を抽出するステップと、抽出した機能毎に機能テスト項目を生成するステップと、生成した機能テスト項目に対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出するステップと、この抽出した機能テスト項目内容に複合性を示す参照機能テスト項目がある場合は単機能テスト項目から学習するステップと、この抽出した機能テスト項目内容に複合性を示す参照機能テスト項目がない場合は上記知識データベースから対応する機能テスト項目内容を抽出するステップと、抽出した機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力するステップとを有することを特徴とする機能テスト手順自動生成方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
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