特許

J-GLOBAL ID：200903074797178666

障害特定方式

発明者： 福田 健次 ,  松川 俊 ,  大橋 正紀
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-172336
公開番号（公開出願番号）：特開平8-037532
出願日： 1994年07月25日
公開日（公表日）： 1996年02月06日
要約：

【要約】【目的】 ATM交換機における障害特定方式に関し、障害発生箇所を、多数の測定器および観測者を用いること無く特定可能とすることを目的とする。【構成】 所定数の試験用セルを生成し、ATM交換機内に設定した試験対象経路を転送して障害発生を検査する試験セル発生部(101)を具備するATM交換機(100)において、試験用セルと共に送出されるセルイネーブル信号を検出するセルイネーブル信号検出手段(201)と、セルイネーブル信号を検出している間に試験用セルと共に送出されるセルトップ信号をセル数として計数するセルトップ信号計数手段(202)とを具備するセル計測手段(200)を、前記経路の所要箇所(L)に接続し、試験セル発生部(101)から送出される試験用セル数と、前記所要箇所で計数されるセル数とを比較することにより、障害発生箇所を特定する様に構成する。

請求項（抜粋）：

所定数の試験用セルを生成し、ATM交換機(100)内に設定した試験対象経路を転送して障害発生を検査する試験セル発生部(101)を具備するATM交換機(100)において、前記試験対象経路の所要箇所(L)に、前記試験セル発生部(101)から前記試験用セルと共に送出されるセルイネーブル信号(ENB)を検出するセルイネーブル信号検出手段(201)と、前記セルイネーブル信号検出手段(201)が前記セルイネーブル信号(ENB)を検出している間に、前記試験セル発生部(101)から前記試験用セルと共に送出されるセルトップ信号(TOP)をセル数(n)として計数するセルトップ信号計数手段(202)とを具備するセル計測手段(200)を接続し、前記試験セル発生部(101)から前記試験対象経路に送出される前記試験用セルの数と、前記試験対象経路の所要箇所(L)で計数される前記セル数(n)とを比較することにより、前記試験対象経路内の障害発生箇所を特定することを特徴とする障害特定方式。

IPC (3件)：

H04L 12/28 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 3/00

FI (2件)：

H04L 11/20 D ,  H04L 11/12