特許

J-GLOBAL ID：200903074840506214

しみ・そばかす評価方法

発明者： 大坪 充恵 ,  氷室 由起子 ,  水垣 めぐみ ,  吉川 拓伸
出願人/特許権者： 株式会社資生堂
代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-346585
公開番号（公開出願番号）：特開2003-144393
出願日： 2001年11月12日
公開日（公表日）： 2003年05月20日
要約：

【要約】【課題】 機器を用いてしみ・そばかすの定量評価を行うときに、効果的でかつ簡易なしみ・そばかすの評価方法を提供する。【解決手段】 皮膚領域のなかで最も目立つしみ・そばかすを視感等により特定し、特定したしみ・そばかすを分光測色計等の機器を用いて色情報を定量化して色情報データを得、この色情報データに基づいて、皮膚領域全体のしみ・そばかすの目立ち程度を判定する。定量化される色情報データは、複数波長の分光反射率データを用いて主成分分析を行って得られるメラニンに関する主成分得点の測定領域における平均値に基づくものである。

請求項（抜粋）：

対象となる皮膚領域のしみ・そばかすを評価する方法であって、該皮膚領域のなかで最も目立つしみ・そばかすを特定し、該特定したしみ・そばかすを機器を用いて定量化した色情報データに基づいて、該皮膚領域全体のしみ・そばかすの目立ち程度を判定することを特徴とするしみ・そばかす評価方法。

IPC (4件)：

A61B 5/00 ,  A61B 5/00 101 ,  A61B 5/107 ,  G01J 3/50

FI (4件)：

A61B 5/00 M ,  A61B 5/00 101 A ,  G01J 3/50 ,  A61B 5/10 300 Q

Fターム (9件)：

2G020AA08 ,  2G020DA04 ,  2G020DA05 ,  2G020DA12 ,  2G020DA22 ,  2G020DA31 ,  2G020DA34 ,  2G020DA66 ,  4C038VB22

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 表面状態解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-296750   出願人：株式会社資生堂