特許

J-GLOBAL ID：200903074865141091

接触アイランド及び導体路を有する印刷回路基板の検査装置における正しい位置を検査するシステム及び方法

発明者： デーメル リュディゲル ,  ブルッヒヴァルト エドヴァルド ,  カッセバウム トルシュテン
出願人/特許権者： ルーテル ウント マールツェル ゲーエムベーハー
代理人 (1件)： 神原 貞昭
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-530048
公開番号（公開出願番号）：特表平10-508373
出願日： 1995年05月18日
公開日（公表日）： 1998年08月18日
要約：

【要約】接触アイランド(95a)及び導体路を有した印刷回路基板(2)の、接触アイランド(95a)に接触する接触子(95b)を有した検査装置における正しい位置についての検査、あるいは、印刷回路基板(2)の正しい位置からの印刷回路基板(2)に平行な方向に沿った偏差の測定を、印刷回路基板(2)が正しい位置にあるとき、接触アイランド(95a)とそれに対応する接触子(95b)とが互いに中心を一致させることが原則とされるもとで行うシステムであって、少なくとも1個の接触アイランド(95a)及びそれに対応する接触子(95b)が、印刷回路基板(2)が正しい位置にあるときにおいても、接触アイランド(95a)及び接触子(95b)のうちの一方に対する他方の設定された片寄りを伴っていて、接触アイランド(95a)と接触子(95b)との間の接触領域が接触アイランド(95a)の周縁部分に向かって変位することになるものとされる。

請求項（抜粋）：

接触アイランド(22a,22b,95a)及び導体路を有した印刷回路基板(2)の、上記接触アイランド(22a,22b,95a)に接触する接触子(95b)を有した検査装置(3)における正しい位置についての検査、あるいは、上記印刷回路基板(2)の上記正しい位置からの上記印刷回路基板(2)に平行な方向に沿った偏差の測定を、上記印刷回路基板(2)が上記正しい位置にあるとき、上記接触アイランド(22a,22b,95a)とそれに対応する上記接触子(95b)とが互いに中心を一致させることが原則とされるもとで行い、他の接触アイランド及びそれに対応する接触子の対とは異なる、少なくとも1個の接触アイランド(95a)及びそれに対応する接触子(95b)が、上記印刷回路基板(2)が上記正しい位置にあるときにおいても、上記接触アイランド(95a)及び上記接触子(95b)のうちの一方に対する他方の設定された片寄りを伴っていて、上記接触アイランド(95a)と上記接触子(95b)との間の接触領域が上記接触アイランド(95a)の周縁部分に向かって変位することになるものとされることを特徴とするシステム。

IPC (5件)：

G01R 31/02 ,  G01B 21/00 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/28 ,  H05K 3/00

FI (5件)：

G01R 31/02 ,  G01B 21/00 A ,  G01R 1/06 E ,  H05K 3/00 T ,  G01R 31/28 K