特許
J-GLOBAL ID：200903074923172318
偏光コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡使用のシステム及び方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
吉田 研二
, 石田 純
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-510910
公開番号（公開出願番号）：特表2004-534232
出願日： 2002年06月27日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：
顕微鏡試料に誘導された非線形コヒーレント場を検出するシステム及び方法が開示される。1実施形態において、上記システムは、第1の偏光電磁場を第1の周波数で生成する第1のソースと、第2の偏光電磁場を、第1の周波数と異なる第2の周波数で生成する第2のソースとを含む。上記システムは、第1の偏光電磁場と第2の偏光電磁場とを、偏光角の差がゼロでないφになるように共線的に合成する光学系をさらに含む。光学系は、合成された電磁場を共通の焦点ボリュームにさらに向ける。システムは、偏光感応検出器をさらに含み、焦点ボリュームにおける第1及び第2の偏光電磁場に応答して生成された非線形コヒーレント場を検出する。
請求項（抜粋）：
顕微鏡試料に生成された非線形コヒーレント場を検出するシステムであって、
第1の周波数の第1の偏光電磁場を生成する第1のソースと、
前記第1の周波数と異なる第2の周波数で第2の偏光電磁場を生成する第2のソースと、
第1の偏光電磁場と第2の偏光電磁場とを、偏光角の差φがゼロでないように共線的に合成し、合成された電磁場を共通の焦点ボリュームに向ける光学系と、
前記焦点ボリュームにおける前記第1及び第2の偏光電磁場に応答して生成された非線形コヒーレント場を検出する偏光感応検出器と、
を含むシステム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (26件)：
2G020AA03
, 2G020BA03
, 2G020BA05
, 2G020CA04
, 2G020CB06
, 2G020CB22
, 2G020CC29
, 2G020CD03
, 2G020CD14
, 2G020CD24
, 2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043FA02
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA07
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043KA01
, 2G043KA07
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043MA01
