特許

J-GLOBAL ID：200903074925593981

コーン・ビーム・マルチスライス式CT補正方法及び装置

発明者： ガイ・ダブリュー・ベッソン ,  セーラ・キャサリン・パッチ
出願人/特許権者： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
代理人 (1件)： 松本 研一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-326256
公開番号（公開出願番号）：特開2001-161678
出願日： 2000年10月26日
公開日（公表日）： 2001年06月19日
要約：

【要約】【課題】 マルチスライス式計算機式断層撮影(CT)イメージングにおいて画像品質と実用性を最良にする。【解決手段】 本発明では、軌道に沿ってX線源を移動させる工程と、移動するX線源から物体を通して彎曲した検出器に向かってX線コーン・ビームを投射する工程と、物体の再構成ボリューム内のボクセルに対する上述の軌道に沿ったセグメントの寄与分を決定する工程とを含んでおり、該決定する工程は、決定された寄与分を検出器の曲率及びX線コーン・ビームの形状について補償することを含む。

請求項（抜粋）：

マルチスライス式計算機式断層撮影イメージング方法であって、軌道に沿ってX線源を移動させる工程と、該移動するX線源から物体を通して彎曲した検出器に向かってX線コーン・ビームを投射する工程と、前記物体の再構成ボリューム内のボクセルに対する前記軌道に沿った複数のセグメントのそれぞれの寄与分を決定する工程であって、該決定された寄与分を前記検出器の曲率及びX線コーン・ビームの形状について補償することを含む工程と、を有している方法。

IPC (3件)：

A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 ,  A61B 6/03 321

FI (4件)：

A61B 6/03 350 H ,  A61B 6/03 350 G ,  A61B 6/03 350 R ,  A61B 6/03 321 Q