イオントラップ質量分析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高田幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-027271
公開番号（公開出願番号）：特開平11-224645
出願日： 1998年02月09日
公開日（公表日）： 1999年08月17日
要約：

【要約】【課題】高感度測定が可能なイオントラップ質量分析装置を提供すること。【解決手段】注入口3から導入された試料は分析カラム4を進みながら成分毎に分離される。分離された試料成分はESIプローブ5に送られイオン化される。イオンは真空室30内に導入され、更にイオンイオンガイド8を経てイオントラップ40に送り込まれる。イオントラップ40は導入されたイオンを内部に安定に捕捉し、蓄積する。蓄積されたイオンはリング電極11に印可された高周波の電圧(振幅)を掃引することにより外部に放出され、検出器12で検出される。真空室30に導入されてイオントラップ40の外部を迷走するイオンはイオン遮蔽体16によりトラップされ、したがって検出器12によって検出されることはない。

請求項（抜粋）：

試料をイオン化してイオンを生成する手段と、その生成されたイオンが導入される真空室と、その導入されたイオンをトラップする、前記真空室内に配置されたイオントラップと、そのトラップされたイオンを前記イオントラップ外に放出させる手段と、その放出されたイオンを検出する手段とを含むイオントラップ質量分析装置において、前記真空室に導入されるイオンのうちの、前記イオントラップの外部を介して前記イオン検出手段に向かって迷走するイオンを遮蔽するイオン遮蔽体を備えていることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。

IPC (3件)：

H01J 49/34 , G01N 27/62 , H01J 49/06

FI (3件)：

H01J 49/34 , G01N 27/62 E , H01J 49/06

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