特許

J-GLOBAL ID：200903074951822450

ディップスイッチの状態検査装置

発明者： 北山 綱次
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所
代理人 (1件)： 守田 賢一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-033872
公開番号（公開出願番号）：特開2000-232266
出願日： 1999年02月12日
公開日（公表日）： 2000年08月22日
要約：

【要約】【課題】 ディップスイッチの実装方向およびスイッチ設定状態のいずれをも簡易かつ確実に検査することができる。【解決手段】 ディップスイッチ1はパッケージ11表面にスイッチ操作片12A〜12Eが露出している。照明リング51はスイッチ操作片12A〜12Eからのみ反射光を生じるような適当な角度でパッケージ11表面に照明光を当てる。照明されたパッケージ11表面の画像は撮像装置8で撮像され、データ処理装置6は撮像装置8で得られた画像中に検査領域を設定して当該検査領域内の明暗分布を基準の明暗分布と比較することによってディップスイッチ1の実装方向等を検査する。

請求項（抜粋）：

パッケージ表面にスイッチ操作片が露出しているディップスイッチの状態検査装置であって、スイッチ操作片からのみ反射光を生じる適当な角度でパッケージ表面に照明光を当てる照明手段と、照明されたパッケージ表面の画像を得る撮像手段と、撮像手段で得られた画像中に検査領域を設定して当該検査領域内の明暗分布を基準の明暗分布と比較することによってディップスイッチの状態を検査する検査手段とを具備するディップスイッチの状態検査装置。

IPC (2件)：

H05K 3/34 512 ,  G01N 21/88

FI (2件)：

H05K 3/34 512 B ,  G01N 21/88 J

Fターム (15件)：

2G051AA61 ,  2G051AB20 ,  2G051BA01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA07 ,  2G051EA11 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051ED04 ,  5E319AA03 ,  5E319AB03 ,  5E319CC22 ,  5E319CD51