特許
J-GLOBAL ID:200903074952917969

パターン認識システム及び監視システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 木内 光春
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-153524
公開番号(公開出願番号):特開平7-028766
出願日: 1993年06月24日
公開日(公表日): 1995年01月31日
要約:
【要約】【目的】 弱反応を検出するパターン認識システムを提供する。【構成】 画像スキャナ1及び画像前処理部10が入力した文字パターンをニューラルネットが認識する。弱反応検出部11が弱反応を検出すると、問題パターン格納部12が問題パターンを格納し、関連情報格納部13が関連情報を格納する。教師情報決定部15が各パターンの教師情報を決定する。教師情報は教師情報格納部16に格納され、妥当性判定部17は、問題パターン以外のパターンについて、その教師情報に基づいて認識結果の妥当性を判定する。認識結果が妥当でないパターンは問題パターン格納部12に格納される。教師情報付加作業支援部18は、問題パターンについて、関連情報を出力することによってオペレータによる教師情報付加作業を支援する。性能低下検出部19がニューラルネットの性能低下を検出すると、調整部20がニューラルネットのパラメータを調整する。
請求項(抜粋):
パターンを入力する入力手段と、前記パターンが複数の認識結果候補のいずれに該当するかを認識する認識手段と、前記認識の結果を出力する出力手段とを有するパターン認識システムにおいて、前記認識における弱反応を検出する弱反応検出手段を備えたことを特徴とするパターン認識システム。
IPC (4件):
G06F 15/18 ,  G01B 11/24 ,  G06K 9/66 ,  G06T 7/00

前のページに戻る