特許

J-GLOBAL ID：200903074979145682

電子部品観察装置及び電子部品観察方法

発明者： 藤代 恵介 ,  村田 浩 ,  後藤 峰彦 ,  高田 浩二
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-315947
公開番号（公開出願番号）：特開平10-163694
出願日： 1996年11月27日
公開日（公表日）： 1998年06月19日
要約：

【要約】【課題】 バンプ付電子部品を正しく認識できる電子部品観察方法を提供することを目的とする。【解決手段】 電子部品1のバンプ4の配列面に向かって光を照射する反射認識発光部18と、背景板7に光を照射する透過認識発光部19と、電子部品の端子の配列面に対して鋭角に光を照射するバンプ認識発光部20とを用意し、バンプ認識方式、透過認識方式、反射認識方式の認識方式によって、反射認識発光部と透過認識発光部と、バンプ認識発光部のうち、点灯する発光部を切り替えて用いる。

請求項（抜粋）：

電子部品を保持する移載ヘッドと、前記移載ヘッドに保持された電子部品の背後に位置する背景板と、電子部品を観察するカメラと、電子部品の端子の配列面に向かって光を照射する反射認識発光部と、前記背景板に光を照射する透過認識発光部と、電子部品の端子の配列面に対して鋭角に光を照射するバンプ認識発光部とを備えたことを特徴とする電子部品観察装置。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平4-299899
  
• 検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-151606   出願人：オムロン株式会社