特許
J-GLOBAL ID：200903074997301390
連続鋳造におけるパウダフィルム厚さ測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-030099
公開番号（公開出願番号）：特開平5-192753
出願日： 1992年01月20日
公開日（公表日）： 1993年08月03日
要約：
【要約】【目的】 パウダフィルム厚さを、磁場の受信コイルからの出力信号の強度,位相差の変化に基づき高精度に測定する。【構成】 連続鋳造用の鋳型1内に、送信コイル11と受信コイル12とを鋳片6の移動方向に所定の間隔を隔てて埋設し、送信コイル11に接続された発振器13を低周波と高周波とにて所定のタイミングで交互に発振させて送信コイル11にて磁場を形成し、受信コイル12でこれを検出し、受信コイル12の出力信号である誘導電流の位相と送信コイル11を励磁したときの低周波, 高周波電流の位相の差を位相差検出器15にて検出し、演算部16にて演算処理し、鋳型温度補正を施したパウダフイルム厚さを算出する。
請求項（抜粋）：
水冷構造を有する連続鋳造用の鋳型内に所定の間隔を隔ててパウダフィルム厚さ測定用の高い周波数と前記鋳型温度の影響を補償する低い周波数とで発振せしめられる送信コイルと、該送信用コイルの前記高い周波数と低い周波数とによる夫々の発振により形成された磁場を捉える受信用コイルと、該受信用コイルの検出値に基づきパウダフィルム厚さを求める演算部とを具備することを特徴とする連続鋳造におけるパウダフィルム厚さ測定装置。
IPC (4件)：
B22D 11/16 104
, B22D 11/10 370
, G01B 7/00
, G01B 7/14
