X線検出器の照射劣化特性測定方法およびX線CT装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：有近紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-221553
公開番号（公開出願番号）：特開平9-056709
出願日： 1995年08月30日
公開日（公表日）： 1997年03月04日
要約：

【要約】【課題】 X線検出器の照射劣化特性を正確に測定する。【解決手段】 2段検出器アレイを備えたX線CT装置100において、第1段の検出器アレイのみにX線を入射させて出力データを取得し、第1段の検出器アレイの出力データから変動比を求め、第2段の検出器アレイの出力データから基準変動比を求め、変動比から基準変動比を減算し、第1段の検出器アレイの照射劣化特性を求める。また、第2段の検出器アレイのみにX線を入射させて出力データを取得し、第2段の検出器アレイの出力データから変動比を求め、第1段の検出器アレイの出力データから基準変動比を求め、変動比から基準変動比を減算し、第2段の検出器アレイの照射劣化特性を求める。この照射劣化特性と被検体をスキャンした時のX線照射の積算値から感度の劣化分を求め、それを補償するように出力データを補正する。【効果】 X線検出器の照射劣化特性に起因する画像上のアーチファクトをなくすことが出来る。

請求項（抜粋）：

X線照射を受けた積算量に応じてX線検出器の感度が劣化する照射劣化特性の測定方法であって、2段以上のX線検出器が一体化された多段X線検出器の第q段(=少なくとも1段)のX線検出器にX線が入射するようにし且つ第p段(=第q段以外の少なくとも1段)のX線検出器にX線が入射しないようにしてm(≧1)回のX線照射を行い、次に第q段と第p段のX線検出器にX線が入射するようにして第q段のn(=m+1)回目のX線検出器の出力データ(測定データ)と第p段のn(=m+1)回目のX線検出器の出力データ(基準データ)とを取得し、前記測定データと前記基準データから第q段についての照射劣化特性を求めることを特徴とするX線検出器の照射劣化特性測定方法。

IPC (3件)：

A61B 6/03 320 , A61B 6/03 350 , G01T 1/20

FI (3件)：

A61B 6/03 320 Y , A61B 6/03 350 H , G01T 1/20 J

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