特許
J-GLOBAL ID:200903075045374179

プロッタにおける描画品質制御方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 次男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-274972
公開番号(公開出願番号):特開平5-208585
出願日: 1992年09月18日
公開日(公表日): 1993年08月20日
要約:
【要約】【目的】プロッタにおける描画品質を監視し制御する方法を提供する。【構成】本発明の一実施例によれば、実際のプロット媒体上に引かれた見本線を横切って光学的に検知することにより各ペンを品評し、これにより、描画媒体上のペン書きマークの品質を監視し制御する方法が提供される。品評された特定のペンの各連続する描画タスクの間、実際の線プロットが選択された点を横切って光学的に検知されて見本線と比較される。実際の線プロットが満足できるものでなければ、不具合ペンが交換され、描画が最初から再開されるか、あるいは、最後に良と確認された箇所から再追跡される。あるいは、停止して、ユーザに適切な矯正手順を選択させる。
請求項(抜粋):
プロットのための実際の媒体上に試験線を引くことによりペンを品評する段階と、前記試験線を横切って光学センサ移動することにより、該試験線の品質を初期的に検知する段階と、前記初期検知段階により生成された第1の値を記憶する段階と、前記光学センサをプロット線を横切って移動することにより、該プロット線の品質を引き続き検知することにより、プロット中、ペンの機能を検証する段階と、前記引き続きの検知段階により生成された第2の値を、前記初期的検知段階により生成された第1の値と比較する段階と、を備えてなる、描画媒体上のペン書きマークの品質を監視し制御する方法。
IPC (3件):
B43L 13/00 ,  G01D 9/00 ,  G06F 3/13 320

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