特許
J-GLOBAL ID：200903075093027715
校正装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-266139
公開番号（公開出願番号）：特開平6-117956
出願日： 1992年10月05日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、装置本体の運搬や設置等の校正時の労力を軽減すると共に、読取誤差や調整誤差等のない信頼性の高い校正を実現することを目的とする。【構成】 計装ラック内に収納されてプロセス状態を計測する計器に、基準状態量を印加して計器から出力される計測信号を取込んで該計器の精度に関する情報を得る校正装置において、計装ラック21に設けられ、外部から与えられる指令信号に基づいて基準状態量を発生させてに圧力伝送器23印加する試験装置と、計装ラック21から離間して設置され、圧力伝送器23,プロセス間のプロセス計装ライン24と計器,試験装置間の試験ラインを切替え制御すると共に,指令信号を試験装置へ入力し、圧力伝送器23から出力される計測信号を取込むと共に、計測信号に基づいて、調整指令を発生させて圧力伝送器23へ入力するデータ処理装置27とを備えたことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
計装ラック内に収納されてプロセス状態を計測する計器に、基準状態量を印加してそのときに前記計器から出力される計測信号を取込んで該計器の精度に関する情報を得る校正装置において、前記計装ラックに設けられ、外部から与えられる指令信号に基づいて前記基準状態量を発生させて前記計器に印加する試験装置と、前記計装ラックから離れた場所に設置され、前記計器,プロセス間のプロセス計装ラインと前記計器,前記試験装置間の試験ラインを切替え制御すると共に、前記指令信号を前記試験装置へ入力し、前記計器から出力される計測信号を取込むデータ処理装置とを備えたことを特徴とする校正装置。
引用特許：
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