特許

J-GLOBAL ID：200903075144337218

3次元計測方法

発明者： 岩田 裕 ,  山本 裕一 ,  重山 吉偉 ,  西垣 賢吾
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 梅田 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-221186
公開番号（公開出願番号）：特開平6-066527
出願日： 1992年08月20日
公開日（公表日）： 1994年03月08日
要約：

【要約】【目的】 縞操作を用いた格子パターン投影法による3次元計測方法において、3次元計測方法の高精度化かつ、計測範囲の広範囲化を目的とする。【構成】 縞操作を用いた格子パターン投影法による3次元計測方法において、格子パターンの周期の違う複数の投影手段を用いる事を特徴とする。

請求項（抜粋）：

縞操作を用いた格子パターン投影法による物体の高さ及び3次元計測方法において、格子パターンの周期の違う2つの計測手段を用い、周期の小さな計測手段で計測した結果の周期ずれを、周期の大きな計測手段で計測した結果を用いて補正することを特徴とする高精度かつ、計測範囲の広範囲な3次元計測方法。