特許

J-GLOBAL ID：200903075157792216

ICカード内蔵メモリの検査方法

発明者： 若松 雅樹
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 志村 浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-013228
公開番号（公開出願番号）：特開平7-210640
出願日： 1994年01月11日
公開日（公表日）： 1995年08月11日
要約：

【要約】【目的】 ROM内にメモリ検査用のプログラムを格納することなしに、内蔵メモリの検査を行う。【構成】 図(a) に示すように、EEPROM15の第2の領域に、第1の検査用プログラムをロードし、このプログラムを用いて第1の領域についての検査を行う。続いて、図(b) に示すように、EEPROM15の第1の領域に、第2の検査用プログラムをロードし、このプログラムを用いて第2の領域についての検査を行う。検査終了後は、EEPROM15内を消去し、システム領域に検査終了コードを書き込む。

請求項（抜粋）：

少なくともRAM,ROM,EEPROMの3種類のメモリと、これらのメモリをアクセスする機能をもったCPUと、を内蔵するICカードについて、メモリの検査を行う方法において、EEPROM内に、メモリ検査用プログラムを書き込み、この検査用プログラムを実行することによりメモリの検査を行い、検査終了後に検査用プログラムを消去することを特徴とするICカード内蔵メモリの検査方法。

IPC (3件)：

G06K 19/07 ,  G06F 12/16 330 ,  G06K 17/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭64-051594
  
• 特開平1-223586
  
• 特開平1-092858
  
• 特開昭63-073339