特許
J-GLOBAL ID：200903075158046550
近赤外分析法における検量線の作成方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
牧 哲郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-186204
公開番号（公開出願番号）：特開平6-003264
出願日： 1992年06月19日
公開日（公表日）： 1994年01月11日
要約：
【要約】【目的】サンプルの測定温度や水分値などの吸光度の外的変動要因に影響されない検量線を迅速に作成するようにし、もって外的変動要因の影響を受けやすいサンプルであってもその成分測定の精度の向上を図ること。【構成】測定成分の濃度が既知な標準サンプルについて、温度が異なる条件下での各吸光度スペクトルを求め、所定温度の吸光度スペクトルを基準に、それと温度が異なる吸光度スペクトルとの変化量をあらかじめ求めておく。検量線の作成時には、標準サンプルに対して吸光度スペクトルを求めたのち(S1)、既知の濃度を入力し(S2)、これらのデータに基づいて検量線を作成する(S3)。次に、その検量線を標準サンプルにより検証し(S4)、標準誤差S0が所定値以下のときには(S5)、収集した複数の吸光度スペクトルに対して、あらかじめ求めてあるシフト量を加減算し、仮想のスペクトル群求める(S6)。引き続き、収集した吸光度スペクトル群、求めた仮想のスペクトル群に基づいて検量線を作成する(S7)。
請求項（抜粋）：
測定成分の濃度が既知な標準サンプルに対して近赤外線を照射して吸光度スペクトルを測定し、その測定した複数の吸光度スペクトルにより検量線を作成し、その検量線に基づいて未知サンプルの成分測定を行う近赤外分析法において、検量線作成用の吸光度スペクトルに対する外的変動要因に対応したシフト量をあらかじめ求めておき、検量線の作成時に収集した複数個の吸光度スペクトルについて前記のシフト量を演算して仮想の吸光度スペクトル群を求め、前記検量線作成用の吸光度スペクトル群、および前記仮想の吸光度スペクトル群に基づいて検量線を作成する検量線の作成方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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