特許
J-GLOBAL ID：200903075226207215

太陽電池セルの特性測定方法および太陽電池セルの特性測定装置

発明者：
舩越 康志

舩越 康志 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について


代理人 (6件)： 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-118234
公開番号（公開出願番号）：特開2005-303085
出願日： 2004年04月13日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：
【課題】 裏面電極セルに適した特性測定方法および特性測定装置を提供する。【解決手段】 受光面を構成する第1の主表面とP電極およびN電極が形成された第2の主表面とを有する裏面電極セル1の特性を測定する方法あって、ガラスなどの透光材で構成したステージ21に第1の主表面が対向するように、裏面電極セル1をステージ21に設置する。第2の主表面に形成されたP電極およびN電極にプローブ25を接触させ、ステージ21を介して受光面に光を照射することで、裏面電極セルの特性を測定する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
受光面を構成する第1の主表面とP電極およびN電極が形成された第2の主表面とを有する太陽電池セルの特性を測定する、太陽電池セルの特性測定方法であって、 透光材で構成したステージに第1の主表面が対向するように、前記太陽電池セルを前記ステージに設置し、前記第2の主表面に形成された前記P電極およびN電極にプローブを接触させ、前記ステージを介して前記受光面に光を照射することで太陽電池セルの特性を測定する、太陽電池セルの特性測定方法。
IPC (1件)：
H01L31/04
FI (1件)：
H01L31/04 K
Fターム (4件)：
5F051AA02 ,  5F051GA04 ,  5F051HA07 ,  5F051KA09
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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