特許

J-GLOBAL ID：200903075235462376

品質情報収集診断システムおよびその方法

発明者： 津山 努 ,  佐藤 茂 ,  恒川 佳世 ,  下社 貞夫 ,  日向野 幸一 ,  並木 俊郎 ,  森戸 光蔵 ,  山口 親昭 ,  原田 敏正
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-141161
公開番号（公開出願番号）：特開2000-155700
出願日： 1992年05月25日
公開日（公表日）： 2000年06月06日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】システムのユーザがフィールドにおいて現実に発生する製品の故障や品質上の不具合に基づいた細かい検索や解析の条件を設定でき、しかもそれらの要因の追求が短時間でできる品質データの解析手段を、コスト・パフォーマンスの高い品質情報収集診断システムを提供する。【解決手段】品質情報収集診断システムを、市場における製品の故障と該故障の修理に関する情報を前記製品に関する情報と共に蓄積する情報蓄積手段と、市場における製品の故障の情報に基づいてこの製品の故障個所を推定する故障診断手段と、情報蓄積手段に蓄積した製品の故障とこの故障の修理に関する情報を呼び出す機能を備えた計算器手段とを備えて構成し、情報蓄積手段と故障診断手段と計算器手段とをネットワークで接続した。

請求項（抜粋）：

端末から入力された製品の故障と該故障の修理に関する情報を前記製品の製造に関する情報と関連付けて蓄積する蓄積手段と、該蓄積手段に蓄積された情報を用いて前記製品の故障の現象もしくは故障原因の発生頻度もしくは発生確率を算出する算出手段と、前記蓄積手段に蓄積された情報又は前記算出手段で算出した結果を送信する送信手段とを備えた品質情報収集装置と、前記端末から入力された製品の故障に関する情報に基いて前記製品の故障個所を推定する推定手段と、該推定手段で推定した前記製品の故障個所に関する情報を前記品質情報収集装置から送信された前記推定した製品の故障個所に関する故障の発生頻度もしくは発生確率の情報と共に出力する出力手段を備えた故障診断装置と、前記品質情報収集装置と回線で接続して前記蓄積手段に蓄積した前記製品の故障と該故障の修理に関する情報を呼び出す機能と前記製品の設計情報を記憶する機能とを備えた計算器手段とを有することを特徴とする品質情報収集診断システム。

IPC (3件)：

G06F 11/22 360 ,  G06F 11/22 ,  G06F 17/60

FI (3件)：

G06F 11/22 360 M ,  G06F 11/22 360 C ,  G06F 15/21 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-278240
  
• 特開昭62-098438
  
• 特開昭63-284641
  
• 特開平2-186498