特許
J-GLOBAL ID：200903075240572120
粒状体の圧縮試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-193897
公開番号（公開出願番号）：特開平9-043127
出願日： 1995年07月28日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：
【要約】【課題】 圧縮変形する粒体試料と基盤との接触面の物理量を光学的測定又は検出する。【解決手段】 ガラス板等透光性の部材をもって形成された下部基盤3に粒状体の試料Sを載置する。そして、負荷装置によって圧子7を下降させ、試料Sに対し所定の圧縮荷重を加えるとともに、変位量検出器で、圧子7の移動量を検出する。その一方で、下部基盤3を介して、試料Sと下部基盤3との接触面の物理量を測定することができる。
請求項（抜粋）：
粒状体の試料を載置する基盤と、この試料に圧子を押し付ける負荷手段と、この圧子により圧縮される試料の変位量を検出する変位量検出手段とを備えた粒状体の圧縮試験装置であって、前記基盤を透光性の部材をもって形成するとともに、その裏面に試料と基盤との接触面の物理量を光学的に測定又は検出する機構を配設したことを特徴とする粉状体の圧縮試験装置。
IPC (3件)：
G01N 3/08
, G01N 3/00
, G01N 3/06
G01N 3/08
, G01N 3/00 L
, G01N 3/06
