特許
J-GLOBAL ID：200903075266395502
距離測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-188558
公開番号（公開出願番号）：特開平10-020036
出願日： 1996年06月28日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：
【要約】【課題】 低S/N時でも高速、高精度に距離を測定する方法および装置を提供する。【解決手段】 光強度変調手段により強度変調した光を被測定物に投光し、強度変調した光の一部を参照光として取り出し、被測定物からの反射光を受光すると共に、参照光と反射光との位相差を計測し当該位相差から距離を算出する距離測定方法において、上記位相差計測は、参照光をA/D変換して波形を数値化すると共に、数値化された波形データを三角関数波形に近似して参照光の位相を計測し、反射光をA/D変換して波形を数値化し、当該数値化された波形データを三角関数波形に近似して反射光の位相を計測し、参照光の位相と反射光の位相から位相差を求め、参照光と反射光の波形から位相差を求める。
請求項（抜粋）：
光強度変調手段により強度変調した光を被測定物に投光し、強度変調した光の一部を参照光として取り出し、被測定物からの反射光を受光すると共に、参照光と反射光との位相差を計測し当該位相差から距離を算出する距離測定方法において、上記位相差計測は、参照光をA/D変換して波形を数値化すると共に、数値化された波形データを三角関数波形に近似して参照光の位相を計測し、反射光をA/D変換して波形を数値化し、当該数値化された波形データを三角関数波形に近似して反射光の位相を計測し、参照光の位相と反射光の位相から位相差を求め、参照光と反射光の波形から位相差を求めることを特徴とする距離測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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