特許

J-GLOBAL ID：200903075296036248

高分子結晶化度測定法

発明者： 石井 敏也
出願人/特許権者： 凸版印刷株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-121828
公開番号（公開出願番号）：特開2007-292636
出願日： 2006年04月26日
公開日（公表日）： 2007年11月08日
要約：

【課題】高分子材料表面層における結晶化度を測定する方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明は、高分子の結晶化度を測定する高分子結晶化度測定法であって、試料を剛体振り子試験器に設置し、試料を加熱しながら剛体振り子を振動させ、剛体振り子の対数減衰率から高分子の結晶化度を算出することを特徴とする高分子結晶化度測定法である。これにより、剛体振り子と接する高分子材料表面の結晶性の差を剛体振り子の対数減衰率や周期の変化により検出することが出来る。このため、高分子材料表面層における結晶化度を測定することが可能となる。【選択図】 図5

請求項（抜粋）：

高分子の結晶化度を測定する高分子結晶化度測定法であって、 少なくとも、剛体振り子試験器を用いて、加熱による試料表面の粘性の変化から求められる対数減衰率の変化を検出する工程と、 前記検出した対数減衰率から結晶化度を求める工程と を行うことを特徴とする高分子結晶化度測定方法。

IPC (1件)：

G01N 11/16

FI (1件)：

G01N11/16 A

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特開昭62-79341号公報
  

審査官引用 (2件)

• 特開昭62-079341
  
• 熱可逆記録媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-232122   出願人：株式会社リコー