特許

J-GLOBAL ID：200903075300641593

光式外力検知装置

発明者： 久保木 尚文 ,  中村 一則
出願人/特許権者： 古河電気工業株式会社
代理人 (1件)： 小林 正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-227378
公開番号（公開出願番号）：特開平9-053999
出願日： 1995年08月11日
公開日（公表日）： 1997年02月25日
要約：

【要約】【課題】 高価なスペクトル分析装置が必要であった。多点測定が困難であった。【解決手段】 請求項1では外力が加わることで反射/透過スペクトルの中心波長が変化する光センサ素子に入射させる光の光源として2波長以上の狭スペクトル光源を使用し、光センサ素子からの各波長の反射光あるいは光センサ素子を透過した透過光の強度変化から光センサ素子に加わる外力変化を求めるようにした。請求項2では波長の異なる光源の数を、光センサ素子の反射スペクトル幅程度の波長間隔で増やすようにした。

請求項（抜粋）：

外力が加わることで反射スぺクトルもしくは透過スペクトルの中心波長が変化する光センサ素子の光伝送特性の変化を観測することで、同光センサ素子に加わる外力変化を検知する光式外力検知装置において、光センサ素子に入射される光の光源として2波長以上の狭スペクトル光源を使用し、光センサ素子からの各波長の反射光の強度変化もしくは光センサ素子を透過した各波長の透過光の強度変化から外力変化を求めるようにしたことを特徴とする光式外力検知装置。

IPC (3件)：

G01L 1/00 ,  G01B 11/16 ,  G01M 11/00

FI (3件)：

G01L 1/00 B ,  G01B 11/16 Z ,  G01M 11/00