特許
J-GLOBAL ID：200903075308005092
微分測距装置及びその測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-102943
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043534
出願日： 1995年04月03日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：
【要約】【目的】 超短光パルスを用いた計測に自己相関技術を応用して妨害信号による影響の少ない精密な測定を可能とする測距装置を提供することを目的とする。【構成】 超短光パルスのビームを基準ビームと測定ビームとに分配し、基準ビームは予め規定の光路を往復して集光捕捉手段106に入射し、測定ビームは各試験対象から反射して集光捕捉手段106に入射する。集光捕捉手段106では、反射された測定ビーム間の伝播時間差に応じた離散時点に極値をもつ自己相関関数のタイムゲートで相関点を検出し、検出手段108で上記試験対象間の微分距離を決定する。
請求項（抜粋）：
遠隔点から少なくとも二つの対象間の位置差を測定する装置であって、超短光パルスのビームを発生する手段と、上記超短光パルスのビームを基準ビームを含む複数のビームに分配する手段と、上記二つの対象に上記基準ビーム以外のビームを配光する手段と、予め規定した光路に上記基準ビームを配光する手段と、上記二つの対象で反射されたビームの一部を集光するとともに、上記反射されたビーム間の伝播時間差に応じた離散時点に極値をもつ自己相関関数のタイムゲートで反射或いは散乱されたビームを上記基準ビームと共に捕捉する手段と、上記自己相関関数に応じて上記二つの対象間の微分距離を決定する検出手段とを具備した微分測距装置。
IPC (4件)：
G01S 17/42
, G01L 3/10
, G01P 3/486
, H01S 3/10
