特許
J-GLOBAL ID:200903075313047879
ICカードの試験方法および装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
筒井 大和
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-213734
公開番号(公開出願番号):特開2000-048132
出願日: 1998年07月29日
公開日(公表日): 2000年02月18日
要約:
【要約】【課題】 テスタの原価を増加することなく、各ICカードの試験速度に対応した並列的な個別試験を実現して、安価に試験の高速化を図ることができるICカードの試験技術を提供する。【解決手段】 非接触型または接触型ICカードのEEPROMへのデータ書き込み試験において、各ICカードからの書き込みコマンドAに対する書き込み完了ステータスa1〜a3の受信後に直ちに各ICカードに対して独立に次の書き込みコマンドBを送信して処理を進める。この際に、プロセスの違いによりデバイス間で応答ばらつきがあるため、3chのICカード、1chのICカード、2chのICカードからの書き込み完了ステータスa3,a1,a2が順に受信されるので、これに従って3chのICカード、1chのICカード、2chのICカードの順に次の書き込みコマンドBが送信される。
請求項(抜粋):
複数のICカードの電気的特性試験を並列的に行うICカードの試験方法であって、各ICカードに対して独立に試験情報を送信する工程と、この試験情報に対して前記各ICカードは独立に応答情報を返信する工程と、この応答情報の受信後に直ちに前記各ICカードに対して独立に次の試験情報を送信する工程と、この次の試験情報に対して前記各ICカードは独立に次の応答情報を返信する工程とを含み、以降、試験情報の送信と応答情報の返信とを繰り返して実行することを特徴とするICカードの試験方法。
IPC (2件):
G06K 17/00
, G06F 11/22 310
FI (2件):
G06K 17/00 B
, G06F 11/22 310 V
Fターム (7件):
5B048AA00
, 5B048CC00
, 5B048CC07
, 5B048DD00
, 5B048FF00
, 5B058CA23
, 5B058KA28
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