特許

J-GLOBAL ID：200903075388512488

蛍光及び反射率撮像と分光のための方法及び装置並びに多数の測定装置による電磁放射線の同時測定のための方法及び装置

発明者： ゼン、 ハイシャン ,  ラム、 スティーブン ,  パルシック、 ブランコ ミハエル
出願人/特許権者： ゼン、 ハイシャン ,  ラム、 スティーブン ,  パルシック、 ブランコ ミハエル
代理人 (3件)： 松永 宣行 ,  小合 宗一 ,  佐藤 玲太郎
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-551368
公開番号（公開出願番号）：特表2004-520105
出願日： 2001年12月18日
公開日（公表日）： 2004年07月08日
要約：

【解決手段】組織標本のような対象物、コンピュータチップのような産業上の対象物、又は顕微鏡、内視鏡、望遠鏡若しくはカメラのような光学システムで目視可能の他の任意の対象物から同時に画像及びスペクトルを提供する光学システムである。1実施例において、このシステムは、対象の原画像の様々な所望の波長範囲に対応する多数の画像を提供し、また所望であれば、スペクトルが得られまた装置を示す能力を強化する正確な場所の確認を提供する指向性のあるポインタを提供する。

請求項（抜粋）：

多数の測定装置による電磁放射の同時測定を容易にする方法であって、分光装置及び撮像装置のそれぞれによる受け取りのために向けられる電磁放射線ビームの第1及び第2の隣接光線グループを生じさせることを含み、前記生じさせることは、第1の前記測定装置による受け取りのために前記第1の光線グループを向けることを含み、前記向けることは前記前記ビーム中に反射面を配置することを含み、また前記向けることは、前記第2の光線グループが前記反射面を迂回することを可能とする間に、前記ビームから前記第1の光線グループを反射させるために前記ビーム中に反射面を配置することを含む、方法。

IPC (3件)：

A61B1/00 ,  A61B1/04 ,  G01N21/64

FI (3件)：

A61B1/00 300D ,  A61B1/04 360A ,  G01N21/64 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭59-040830
  
• 特開平4-060602
  
• 光ピックアップ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-067859   出願人：シャープ株式会社
• 特開平2-191314