特許

J-GLOBAL ID：200903075422533600

光学的情報記録方法およびそれを用いた光学的情報記録装置

発明者： 鳴海 建治 ,  秋山 哲也 ,  西内 健一 ,  古川 惠昭
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2000001589
公開番号（公開出願番号）：WO2000-057408
出願日： 2000年03月15日
公開日（公表日）： 2000年09月28日
要約：

【要約】光ディスク録再装置において、実際の情報記録の前に行うテスト記録に要する時間を光ディスクの特性に応じて短縮可能にする方法。ランダムパターン信号生成回路3からランダムパターン信号を送出して光ディスク1上のテストトラックに記録し、BER測定回路14で再生信号のビットエラーレートを測定する。ビットエラーレートが一定値以上の場合のみ、テストパターン信号生成回路4からテストパターン信号を送出して記録し、エッジタイミング検出回路13で再生信号のエッジタイミングを測定して、その測定結果に基づき前端パルスおよび後端パルスのエッジ位置を補正する。

請求項（抜粋）：

書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテスト記録を行い、情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、 前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められた所定の前端パルスエッジ位置と、自己マーク長と後スペース長の組み合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエッジ位置とに基づいて、ランダムパターン信号を記録し(a)、 再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し(b)、 測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し(c)、 判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、第1のテストパターン信号を記録し(d)、 再生した前記第1のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し(e)、 測定した前記エッジ間隔に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定する(f)ことを特徴とする光学的情報記録方法。

IPC (3件)：

G11B 7/0045 ,  G11B 7/125 ,  G11B 19/04 501

FI (3件)：

G11B 7/0045 Z ,  G11B 7/125 Z ,  G11B 19/04 501 P