特許
J-GLOBAL ID：200903075453626739
回路基板の試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
役 昌明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-062549
公開番号（公開出願番号）：特開平6-249920
出願日： 1993年03月01日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：
【要約】【目的】 プローブの先端を予め設定した回路基板上の任意の位置へ自動的に移動させて、所望のテスト・ポイントに正確に接触させること。【構成】 試験すべき回路基板1を載置し、回路基板1と平行な面をX、Y方向に移動するプローブ保持部材22、および、このローブ保持部材22に保持されて回路基板9と垂直なZ方向に突出するプローブ21を有する試験台2と、回路基板1に係わる回路図、指示書などのイメージ・データをマークの座標データとともに格納する第1のメモリと、第1のメモリに格納されているデータを表示する表示器31と、回路基板1にプローブ21を接触させるべき位置の座標を、マークの座標データと対応させて格納する第2のメモリと、表示器31に表示されたマークを選択することにより、プローブ21を接触させるべき回路基板1の座標を第2のメモリより読み出す手段と、この第2のメモリより読み出されたデータに基づいて、プローブ21を接触させるべき位置へ、プローブ保持部材22を移動させる手段とにより構成されている。
請求項（抜粋）：
試験すべき回路基板を載置し、該回路基板と平行な面をX、Y方向に移動するプローブ保持部材と、該ローブ保持部材に保持されて上記回路基板と垂直なZ方向に突出するプローブとを有する試験台と、上記回路基板に係わる回路図、指示書などのイメージ・データをマークの座標データとともに格納する第1のメモリと、該第1のメモリに格納されているデータを表示する表示器と、上記回路基板にプローブを接触させるべき位置の座標を、上記マークの座標データと対応させて格納する第2のメモリと、上記表示器に表示されたマークを選択することにより、プローブを接触させるべき上記回路基板の座標を上記第2のメモリより読み出す手段と、該第2のメモリより読み出されたデータに基づいて、プローブを接触させるべき位置へ、上記プローブ保持部材を移動させる手段と、を具備することを特徴とする回路基板の試験装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28
, G01R 31/02
, H05K 13/00
