特許
J-GLOBAL ID：200903075464222583
分光画像計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-125711
公開番号（公開出願番号）：特開平6-331446
出願日： 1993年05月27日
公開日（公表日）： 1994年12月02日
要約：
【要約】【目的】 2次元的広がりを有する被検体から発せられた光に関して、所定スペクトル毎の強度分布を測定可能で、小型に形成できる分光画像計測装置を得る。【構成】 被検体10から発せられた光11を集光してこの被検体10の像を結像させるレンズ12,13からなる結像光学系内に、上記光10を互いに異なる方向に回折させる複数の回折格子31,32,33および34と、これら複数の回折格子31,32,33および34の各々を通る光11の光路にそれぞれ配されて、互いに異なる所定波長域の光のみを通過させるバンドパス色フィルター21,22,23および24とを配置する。そして、上記複数の回折格子により互いに光路がずれたそれぞれの光が結ぶ像を各々2次元光検出器41,42,43および44によって検出する。
請求項（抜粋）：
2次元的広がりを有する被検体から発せられた光を集光してこの被検体の像を結ぶ結像光学系と、この結像光学系内に配され、前記光を互いに異なる方向に回折させる複数の回折格子と、これらの回折格子の各々を通る光の光路にそれぞれ配されて、互いに異なる所定波長域の光のみを通過させる複数のバンドパス色フィルターと、前記複数の回折格子により互いに光路がずれたそれぞれの光を、前記結像光学系による結像位置で検出する複数の2次元光検出器とからなる分光画像計測装置。
IPC (2件)：
前のページに戻る
