特許
J-GLOBAL ID：200903075477255979
スペーサ計量装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大胡 典夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-062301
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273775
出願日： 1993年03月23日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：
【要約】【目的】 液晶セルの基板間隔を保持するために使用されるスペ-サの計量精度を高め、また散布されるスペ-サの含水量を少なくできるスペ-サ計量装置を提供する。【構成】 スペ-サが移動する通路を形成する供給用容器11bと、この供給用容器11bのスペ-サが供給される側でスペ-サを加熱するホットプレ-ト13と、前記供給用容器11bのスペ-サが外に送り出される側で、加熱されたスペ-サを冷却するコ-ルドプレ-ト14と、前記供給用容器11bから送り出されるスペ-サの量を測定する計量センサ17a、17bとから構成される。
請求項（抜粋）：
スペ-サが移動する通路を形成する供給用容器と、この供給用容器のスペ-サが供給される側でスペ-サを加熱する手段と、前記供給用容器のスペ-サが外に送り出される側で、加熱されたスペ-サを冷却する手段と、前記供給用容器から送り出されるスペ-サの量を測定する手段とを具備したスペ-サ計量装置。
IPC (2件)：
G02F 1/1339 500
, G01G 17/00
