光学的測距装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：市村健夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-142538
公開番号（公開出願番号）：特開平6-331744
出願日： 1993年05月24日
公開日（公表日）： 1994年12月02日
要約：

【要約】【目的】反射パルスの大きさや形状に依存しない、高精度の光学的測距装置を提供する。【構成】光パルスP1が測定対象物5まで往復する時間を計測して、距離を測定する際、複数のコンパレータ13a、13b、13c、13dに、複数の電圧レベルVa、Vb、Vc、Vdを設定し、受信信号S4から、カウンタ11を介し複数の時間データ信号S6a、S6b、S6c、S6dを出力し、受信信号S4のパルス波形を判別して電圧レベル0に対応する時間データT0 を得る。これを補正された時間データとして精度を高めた測距値を得る。

請求項（抜粋）：

光パルスを測定対象物に対して射出する投光手段と、前記測定対象物から反射した前記光パルスを受光し、受信信号を出力する受光手段と、前記光パルスの射出から受光までの測距時間を計測する計時手段と、前記測距時間から測定対象物までの距離を演算する演算手段とを具備する光学的測距装置において、前記受信信号を処理してそのパルス波形を判別し、判別した前記パルス波形から補正時間を算出する形状判別手段と、前記補正時間により前記測距時間を補正する補正手段とを具備することを特徴とする光学的測距装置。

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