感光体の寿命試験方法及びその装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-392136
公開番号（公開出願番号）：特開2002-196615
出願日： 2000年12月25日
公開日（公表日）： 2002年07月12日
要約：

【要約】【課題】制御が容易な感光体の寿命試験方法およびその装置を提供すること。【解決手段】本発明の感光体の寿命測定装置1は、感光体2の周囲を帯電させる帯電器(帯電手段)3と、帯電した領域を露光する除電露光器(露光手段)5と、帯電電位を計測する表面電位計測器(表面電位計測手段)7と、感光体2を通して流れる電流を計測する電流計(電流計測手段)9と、制御装置11とを備え、測定量の電圧Vと電流Iとの2次元座標内の領域ごとに、制御値A及びBの少なくともいずれか一方の調節を、測定量の電圧Vと電流Iと、制御値AとBの相関関係よりあらかじめ決定したテーブルと、測定量と制御値の増減方向とを実行時のPID演算の結果とに基づき決定し、測定量の電圧Vと電流Iとを一定範囲内に制御する。

請求項（抜粋）：

感光体の周囲を帯電させる帯電手段と、帯電した領域を露光する露光手段と、帯電電位を計測する表面電位計測手段と、感光体を通して流れる電流を計測する電流計測手段とを備え、回転する感光体に帯電手段により連続して降り注ぐ電荷で帯電させ、露光手段で感光体上に連続光照射し、感光体上の電荷を消失させる過程を繰り返し、帯電手段の高圧出力の制御値Aと照射光量の制御値Bを操作量として調節し、感光体の帯電電位Vと通過電流Iを測定量として、この測定量を所定の範囲に維持しつつ帯電と光照射とを繰り返し感光体の特性を劣化させることにより、感光体の寿命試験をおこなう寿命試験方法であって、測定量の電圧Vと電流Iとの2次元座標内の領域ごとに、制御値A及びBの少なくともいずれか一方の調節を、測定量の電圧Vと電流Iと、制御値AとBの相関関係よりあらかじめ決定したテーブルと、測定量と制御値の増減方向とを実行時のPID(P:比例定数,I:積分定数,D:微分定数)演算の結果とに基づき決定し、測定量の電圧Vと電流Iとを一定範囲内に制御することを特徴とする感光体の寿命試験方法。

Fターム (1件)：

2H034FA07

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