特許
J-GLOBAL ID：200903075525794968
シール検査方法及びシール検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (7件)：
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 栗原 彰
, 川又 澄雄
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-144816
公開番号（公開出願番号）：特開2005-326276
出願日： 2004年05月14日
公開日（公表日）： 2005年11月24日
要約：
【課題】紙容器を成形する包材内部のアルミ箔層に通電して静電容量を測定するようにしたことによってシール部のシール状態を精度良く検査することのできるシール検査方法を提供する。 【解決手段】本発明のシール検査方法は、誘電体材料と導電性材料とを積層して形成された包材を成形して作られた紙容器のシール部Sを検査するシール検査方法であって、シール部Sによって仕切られた2つの領域に分けられるように紙容器を切り開く切開工程(S101)と、2つの領域の導電性材料に通電してシール部Sの静電容量を検出する静電容量検出工程(S102)と、検出された静電容量に基づいてシール部Sのシール状態を判定するシール状態判定工程(S103)とを含むことを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
誘電体材料と導電性材料とを積層して形成された包材により成形された紙容器のシール部を検査するシール検査方法であって、
前記シール部によって仕切られた2つの領域に分けられるように前記紙容器を切り開く切開工程と、
前記2つの領域の導電性材料に通電して前記シール部の静電容量を検出する静電容量検出工程と、
前記静電容量に基づいて前記シール部のシール状態を判定するシール状態判定工程と
を含むことを特徴とするシール検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
2G067AA47
, 2G067DD25
, 2G067EE00
, 2G067EE08
