特許
J-GLOBAL ID：200903075609223877
太陽電池の評価方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院電子技術総合研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-357570
公開番号（公開出願番号）：特開平6-194430
出願日： 1992年12月24日
公開日（公表日）： 1994年07月15日
要約：
【要約】【構成】直流バイアス光1と光軸2、ビーム径3、スペクトル分布が一致する交流微弱白色光4を被測定太陽電池7の受光面の特定部位8に照射して直流電流-直流電圧(I-V)特性11と交流微弱白色光電流-直流電圧(Δi-V)特性12を測定し、で表す解析式を適用して上記特定部位に対する微弱白色光生成電流Δipと直列抵抗Rsの値を求める操作を上記被測定太陽電池の受光面の全面に行い、これより得られた値を統計処理して上記被測定太陽電池の受光面内の微弱白色光生成電流Δipと直列抵抗Rsの分散分布13、14を求めるようにした太陽電池の評価方法。【効果】従来不可能であった被測定太陽電池の受光面内における微弱白色生成電流Δipや直列抵抗Rsの分散分布13、14が分かり、その分散度合いから被測定太陽電池の品質を的確に評価できる。
請求項（抜粋）：
直流バイアス光と光軸、ビーム径、スペクトル分布が一致する交流微弱白色光を被測定太陽電池の受光面の特定部位に照射して直流電流-直流電圧(I-V)特性と交流微弱白色光電流-直流電圧(Δi-V)特性を測定し、【式1】で表す解析式を適用して上記特定部位に対する微弱白色光生成電流ΔiP と直列抵抗RS の値を求める操作を上記被測定太陽電池の受光面の全面に行い、これより得られた値を統計処理して上記被測定太陽電池の受光面内の微弱白色光生成電流ΔiP と直列抵抗RS の分散分布を求めるようにしたことを特徴とする太陽電池の評価方法。
IPC (3件)：
G01R 31/36
, G01R 31/26
, H01L 31/04
