特許
J-GLOBAL ID：200903075610359472
測定装置及びその製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
千葉 剛宏
, 宮寺 利幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-028307
公開番号（公開出願番号）：特開2005-221327
出願日： 2004年02月04日
公開日（公表日）： 2005年08月18日
要約：
【課題】光ファイバアレイ間に被測定物を配して光学的に該被測定物の性質を測定する場合において、長期信頼性を確保すると共に、コストの低廉化、装置自体の小型化を有効に図る。【解決手段】測定装置10Aは、基台12と、4つの光ファイバ14からなる光ファイバアレイ16とを有する。基台12の主面12aには、光ファイバアレイ16が設置固定される4つのV溝と、該V溝に対して交差して設けられ、且つ、キャピラリー20が設置固定される例えばV溝形状の交差溝22とが設けられている。キャピラリー20は、軸方向を交差溝22の軸方向に一致させて交差溝22に設置固定される。このキャピラリー20は、軸方向に中空部30が形成された円筒形状を有し、中空部30には被測定物質32が供給される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
基台と、1以上の光ファイバとを有し、
前記基台は、1つの面に、前記1以上の光ファイバが載置固定される1以上のV溝と、前記V溝に対して交差して設けられ、且つ、被測定物が配される交差溝とを有し、
前記光ファイバを伝搬する光を前記被測定物に照射して、前記被測定物の性質を測定することを特徴とする測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N15/14 D
, G01N21/64 Z
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA06
, 2G043EA01
, 2G043EA14
, 2G043GA07
, 2G043GB19
, 2G043HA05
, 2G043HA06
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043LA03
