特許

J-GLOBAL ID：200903075630646524

ICテスタ、そのテスト結果表示方法、及び記憶媒体

発明者： 高林 隆光
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-151617
公開番号（公開出願番号）：特開2001-330651
出願日： 2000年05月23日
公開日（公表日）： 2001年11月30日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、ICテスタにおいて、ICテスト結果である分類データを解析及び編集し、FAILが発生する傾向や要因をグラフ等により表示することである。【解決手段】 ICテスタ1において、テスト制御部71はテスタボード部5上の被測定デバイスにテストプログラム61に基づくICテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル62に格納し、データ収集ファイル62に格納された分類データをデータ収集部73を介して抽出する。また、テスト制御部71は抽出された分類データを不良データ解析部76に出力する。そして、不良データ解析部76は、GUI部75の指示に基づいた分類データの解析を行い、解析結果をI/O部72を介して表示部4に表示する。

請求項（抜粋）：

テストプログラムに従って被測定デバイスにICテストを実行するICテスタにおいて、前記被測定デバイスのテスト結果を分類する項目を設定する分類項目設定手段と、前記ICテストにより前記被測定デバイスから出力されるテスト結果を、前記分類項目設定手段により設定された分類項目に基づいて分類して分類データとしてデータ格納手段に格納するテスト制御手段と、前記データ格納手段に格納された分類データの表示形態を指示する表示形態指示手段と、前記表示形態指示手段により指示された表示形態に従って前記データ格納手段に格納された分類データを解析し、該解析結果を指示された表示形態で表示手段に表示する表示制御手段と、を備えることを特徴とするICテスタ。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 330

FI (3件)：

G06F 11/22 310 S ,  G06F 11/22 330 B ,  G01R 31/28 H

Fターム (9件)：

2G032AE09 ,  2G032AE10 ,  2G032AE12 ,  2G032AG02 ,  2G032AH01 ,  5B048AA20 ,  5B048DD01 ,  5B048DD05 ,  5B048DD09