レーザスキャン装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小森久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-304377
公開番号（公開出願番号）：特開2007-183246
出願日： 2006年11月09日
公開日（公表日）： 2007年07月19日
要約：

【課題】時間的損失がなく、全測距領域においてゲインコントロールを行うことができるレーザスキャン装置を提供する。【解決手段】次回測距領域の反射光を受光するように、ゲイン調整用受光素子16を測定用受光素子13の周囲に設ける。距離計測部11は、ゲイン調整用受光素子16において検出した受光強度から照射強度に対する反射強度の割合を算出し、測定用受光素子13で検出した受光強度が飽和しない理想的な補正ゲインを求める。距離計測部11は、ゲイン制御部19に、求めた補正ゲインを設定する。これにより、時間的損失無く略全測距領域においてゲイン調整を行うことができる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

所定方向にスキャンしながら測距領域にレーザ光を照射し、該レーザ光の照射タイミングと反射光の受光タイミングとに基づいて物体との距離を計測する測距動作を所定角度スキャンする毎に行うレーザスキャン装置であって、前記レーザ光の照射方向からの反射光を受光し、反射強度を検出する測定用受光素子と、前記測距領域からスキャン方向に前記所定角度ずれた先行領域からの反射光を受光し、該先行領域の反射強度を検出するゲイン調整用受光素子と、前記測定用受光素子、およびゲイン調整用受光素子が検出した反射強度を増幅する増幅回路と、レーザ光照射強度、および前記ゲイン調整用受光素子が受光した反射光の強度に基づいて、次の測距動作における前記増幅回路のゲインを調整するゲイン調整手段と、を備えたレーザスキャン装置。

IPC (2件)：

G01S 17/10 , G01C 3/06

FI (3件)：

G01S17/10 , G01C3/06 120Q , G01C3/06 140

Fターム (36件)：

2F112AD01 , 2F112BA05 , 2F112CA05 , 2F112DA15 , 2F112DA25 , 2F112DA28 , 2F112DA32 , 2F112EA03 , 2F112FA50 , 2F112GA03 , 5J084AA05 , 5J084AB01 , 5J084AC02 , 5J084AD01 , 5J084BA04 , 5J084BA11 , 5J084BA12 , 5J084BA36 , 5J084BA39 , 5J084BA40 , 5J084BA49 , 5J084BA50 , 5J084BA52 , 5J084BB02 , 5J084BB05 , 5J084CA12 , 5J084CA19 , 5J084CA23 , 5J084CA72 , 5J084DA01 , 5J084DA08 , 5J084DA09 , 5J084EA05 , 5J084EA07 , 5J084EA11 , 5J084EA22

引用特許：

出願人引用 (3件)

実開平5-23176号公報
レーダ装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-295340 出願人：日本電装株式会社, トヨタ自動車株式会社
自動車の走行制御装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-029274 出願人：マツダ株式会社

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