X線分析装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉村暁秀 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-010112
公開番号（公開出願番号）：特開平5-264479
出願日： 1993年01月25日
公開日（公表日）： 1993年10月12日
要約：

【要約】【目的】種々の分析方法にも簡単に適合させることができる安価なX線分析装置を提供する。【構成】分析する物体20を照射するX線ビーム15を発生するX線源1と、物体を担持するゴニオメーター22と、物体から放射するX線25の検出のための検出装置26とを具える。物体の瞬間照射部の同時の位置検知分析を行えるよう、物体から放射するX線25が検出装置26に入る前にX線25が通る検出スリット24を設け、更に検出装置26には1元位置検知検出器28を設ける。

請求項（抜粋）：

分析すべき物体(20)を照射するX線ビーム(15)を発生するX線源(1)と、物体を位置決めするための物体ホルダー(22)と、物体から放射するX線(25)の検出のための検出装置(26)と、回転機構とを具えるX線分析装置において、前記物体の瞬間照射部の同時の位置検知分析を達成するよう前記回転機構と、1元位置検知検出器(28)と、検出コリメーターシステム(24)とを構成して互に相対的に配置したことを特徴とするX線分析装置。

引用特許：

審査官引用 (12件)

特開昭61-256243
特開昭59-007251
特開平4-236348

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