特許

J-GLOBAL ID：200903075658976058

表面増強ラマン分光分析用治具及びその製造方法

発明者： 小中原 馨 ,  大倉 央 ,  武内 慎介
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (3件)： 山下 穣平 ,  志村 博 ,  永井 道雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-175105
公開番号（公開出願番号）：特開2006-349463
出願日： 2005年06月15日
公開日（公表日）： 2006年12月28日
要約：

【課題】 試料に損傷を与えない程度の強さのレーザー光を照射しても、強度が微弱なラマン散乱光を感度良く測定できる表面増強ラマン分光分析用治具及びその製造方法を提供することにある。【解決手段】 試料を採取しレーザー光を照射して表面増強ラマン分光分析を行うための治具であって、基体上に複数の突起が近接して配列し、該突起の表面が金属膜で被覆されてなることを特徴とする表面増強ラマン分光分析用治具及びその製造方法。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

試料を採取しレーザー光を照射して表面増強ラマン分光分析を行うための治具であって、基体上に複数の突起が近接して配列し、該突起の表面が金属膜で被覆されてなることを特徴とする表面増強ラマン分光分析用治具。

IPC (1件)：

G01N 21/65

FI (1件)：

G01N21/65

Fターム (8件)：

2G043BA14 ,  2G043DA06 ,  2G043EA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GB02 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043KA09

引用特許：

出願人引用 (1件)

• ラマン分光の測定方法および測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-295365   出願人：株式会社東芝