特許
J-GLOBAL ID：200903075681291470
絶縁不良検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
村上 博 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-173685
公開番号（公開出願番号）：特開平11-023637
出願日： 1997年06月30日
公開日（公表日）： 1999年01月29日
要約：
【要約】【課題】 絶縁を必要とする複数の電源マイナス端子間の絶縁抵抗不良を安価な回路構成で高精度に検出及び判定する。【解決手段】 マイクロコンピュータ1から矩形波を出力し、絶縁抵抗3とコンデンサ5とで形成される微分回路で微分処理し、走行用バッテリ2のマイナス端子と車体アース間の直流的な絶縁性を損なわない波形整形用微分回路6に通した後、半波整流回路7により前記微分波形を半波整流し、積分回路8にて半波整流した前記微分波形を平均化してDC電圧にし、増幅器9にて増幅後、マイクロコンピュータ1に入力して、内部記憶装置10と比較することで絶縁抵抗3の大小を判定するようにするものである。
請求項（抜粋）：
絶縁を必要とする1又は複数の電源マイナス端子間の絶縁抵抗不良を検出する絶縁不良検出装置であって、絶縁抵抗を検出するため発振波を発する発振手段と、電源マイナス端子とアース間の直流的な絶縁性を損わないように上記発振波を波形整形する微分回路と、上記微分された波形を平均化する積分回路と、この平均化された波形により絶縁抵抗の大小を判定する判定手段を備えたことを特徴とする絶縁不良検出装置。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, G01R 27/02
, H02H 3/16
G01R 31/02
, G01R 27/02 R
, H02H 3/16 A
